華榮檢測股份有限公司

材質分析

XRF光譜分析儀由激發源（X射線管）和探測系統構成，X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品，樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，並且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性，探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量，儀器軟體將控測系統所收集的資訊轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。